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光鏡及電鏡制樣設備
PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿
PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿,可在室溫條件下對材料施加拉力,結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
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PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿,可在室溫條件下對材料施加拉力,結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
本套系統(tǒng)包括:單傾拉伸樣品桿、拉伸控制器、專用拉伸樣品載片。 應用方向:研究金屬材料、納米材料、薄膜等的力學變化機制。
透射電子顯微鏡原位加熱/電學測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)安裝MEMS工藝制成的微加熱芯片和電學測量芯片。微加熱芯片可對樣品進行可控溫度的加熱,電學測量芯片可對樣品進行電性質(zhì)測量。并可在進行加熱和電學測量的同時,動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征,大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領(lǐng)域。
● 適用于Thermofisher(FEI)、JEOL、Hitachi、Zeiss品牌透射電鏡
● 兼容類型極靴
● 保證透射電鏡原有分辨率
● 拉伸位移:2 mm
● 拉伸速率:0.2 um-50 um/s
● 拉伸步長:小于100nm
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