ContourX家族中的高效能臺式光學(xué)輪廓儀，配備自動XYZ樣品臺，高級查找表面功能，拼接及大范圍成像功能

三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200

提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的**融合，是同類產(chǎn)品中最快、最準(zhǔn)確、可重復(fù)性最高的非接觸式三維表面計量系統(tǒng)。該計量系統(tǒng)占地面積小，采用更大視場、5MP 數(shù)碼攝像頭和全新電動 XY 工作臺，具有**的二維/三維高分辨測量能力。ContourX-200 擁有出色的 Z 軸分辨率和精確度，具備布魯克專有白光干涉（WLI）技術(shù)廣受業(yè)界認(rèn)可的所有優(yōu)勢，而且不存在傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡和同類普通光學(xué)輪廓儀的局限性。

自動化能力可實(shí)現(xiàn)更快測量和分析速度的程序。

電動XY 工作臺實(shí)現(xiàn)低噪聲高速定量計量。

耐振動緊湊設(shè)計提供穩(wěn)定、可重復(fù)的測量。

特點(diǎn)

同類最佳計量技術(shù)

三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200 依托 40 多年的 WLI 自主創(chuàng)新成果，可滿足定量計量所需的低噪聲、高速、準(zhǔn)確度和精確度。通過使用多種物鏡和圖案識別，可以亞納米垂直分辨率在多個視場跟蹤特征，為多個行業(yè)的質(zhì)量控制和過程監(jiān)控應(yīng)用提供不受尺寸大小影響的結(jié)果。ContourX-200 在反射率 0.05% 到 100% 的所有表面情況下都能發(fā)揮穩(wěn)定性能。新增硬件特點(diǎn)包括為獲取更大拼接而創(chuàng)新設(shè)計的工作臺；一只 5MP 攝像頭，采用 1200x1000 測量陣列，實(shí)現(xiàn)低噪聲、更大視場和更高橫向分辨率。

白光干涉所有物鏡均提供恒定的最佳垂直分辨率。

**泛的應(yīng)用分析能力

輪廓X-200電動級。

ContourX-200 采用強(qiáng)大的 VisionXpress 和 Vision64 用戶界面，提供數(shù)千種自定義分析以提升實(shí)驗(yàn)室和工廠的效率。布魯克全新通用掃描干涉（USI）測量模式可提供全自動、自感知表面紋理、優(yōu)化信號處理，同時對所分析的表面形貌執(zhí)行最準(zhǔn)確、最實(shí)際的計算。該系統(tǒng)采用新款攝像頭，擴(kuò)大了視場，加上新型電動 XY 工作臺具有的靈活性，提升了處理多種樣品和零部件時的靈活性和效率。軟硬件的**結(jié)合，實(shí)現(xiàn)**的光學(xué)性能，全面****計量技術(shù)。