Sensofar新型高精度3D測量系統(tǒng)S wide

產(chǎn)品簡介

Sensofar新型高精度3D測量系統(tǒng)S wide ，適用于快速測量大樣品區(qū)域，測量面積最高可達 300 x 300 mm。它具有集成了數(shù)字顯微鏡的高分辨率測量儀器的所有優(yōu)點。一鍵式采集功能，易于使用。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-04-21

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：752

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

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　　Sensofar新型高精度3D測量系統(tǒng)S wide

　　一、應(yīng)用領(lǐng)域：

　　主要應(yīng)用于，大面積 3D 光學測量系統(tǒng)、先進制造業(yè)、考古學與古生物學、消費類電子產(chǎn)品、醫(yī)療設(shè)備、模塑、光學、鐘表業(yè)等行業(yè)。

　　二、產(chǎn)品優(yōu)勢：

　　1.亞微米高度可重復性，可擴展整個區(qū)域內(nèi)

Sensofar新型高精度3D測量系統(tǒng)S wide

　　2. 無需 Z 軸掃描即可測量最高 40mm 的單次測量高度

　　3.具有極低場失真的雙側(cè)遠心鏡頭，提供精確的測量

Sensofar新型高精度3D測量系統(tǒng)S wide

　　4.可追溯性：采用ISO 標準

　　Sensofar新型高精度3D測量系統(tǒng)S wide 每一款 S wide 產(chǎn)品都是為提供準確且可追溯的測量結(jié)果而制造的。系統(tǒng)根據(jù) ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯標準進行校準。

　　5.與 3D CAD 模型的形狀偏差：提供幾何差異和公差測量

Sensofar新型高精度3D測量系統(tǒng)S wide

　　6. 表面紋理測量儀器的校準

　　我們的所有系統(tǒng)精心制造，提供準確、可追溯的測量。系統(tǒng)按照符合ISO 25178第 7 部分關(guān)于下列參數(shù)的指南的可追溯標準進行校準：Z 放大系數(shù)、XY 橫向尺寸、平面度誤差以及偏心度。

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